A. 時間解析光激螢光 (Time-Resolved Photoluminescence，TRPL)
a. TRPL原理
時間單光子計數系統(Time-corrected Single Photon Counting System, TCSPC)。其基本原理是選定特定光子能量作為偵測能量位置，用脈衝雷射光源激發樣品產生螢光，每次脈衝只激發出單顆光子，由雷射脈衝產生的時間與單位光子被偵測到之時間差，經過多次計數，可測得螢光光子出現的機率分佈 ，如圖一所示，此曲線就相當於激發停止後螢光強度隨時間衰減的曲線。
b. TRPL實驗裝置
時間鑑別光激螢光光譜系統架構圖如圖二所示，首先以波長375nm短脈衝雷射(pulse width 50ps)當作激發光源，以凸透鏡聚焦入射於樣品，其螢光以透鏡組收集入射於光譜儀中，光譜儀可以選擇特定發光波長，量測特定發光波長的載子生命期，接著利用時間相關單一光子計數器(Time-Correlated Single Photon Counting，TCSPC)記錄螢光時域變化，得到時間解析光激螢光圖形。
圖二 時間解析光激螢光裝置圖。
B. 時間解析電激螢光光譜 (Time-Resolved Electroluminescence，TREL)
a. TREL原理
TREL則是利用脈衝電壓激發樣品，以示波器分析紀錄EL與時間的關係，則進一步得到延遲時間，分析即得載子注入、載子遷移、載子形成激發態、激發態載子產生放射光等困難分析過程，如圖三示。藉由TREL的量測，我們可以研究載子的移動率(mobility)、載子上升時間(rise time)、載子衰減期(decay time)。
圖三 (a)典型的脈衝電壓。
b. TREL實驗裝置
實驗做法為加脈衝電壓於樣品，將光譜儀設定至要偵測的波長峰值，用光偵測器接收螢光光子訊號，並將光子轉為電流訊號送到示波器，利用軟體繪出時間解析電激螢光，裝置如圖四所示。
，如圖一所示，此曲線
。
，分析即得載子注入、載子遷移、載子形成激發態、激發態載子產生放射光等困難分析過程，如圖三示。藉由TREL的量測，我們可以研究載子的移動率(mobility)、載子上升時間(rise time)、載子衰減期(decay time)。
